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技術(shù)文章

高低溫(濕熱)快速溫度變化試驗箱
高低溫(濕熱)快速溫度變化試驗箱

設(shè)備特點
適用于對電工電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進行ESS溫度應(yīng)力篩選試驗、高低溫試驗或高低溫濕熱試驗。
本系列產(chǎn)品為內(nèi)膽材料采用SUS304不銹鋼制作，外殼采用表面噴塑處理的鍍鋅鋼板制作，結(jié)構(gòu)選型新穎、美觀大方。
制冷、電控關(guān)鍵配件均為進口國際名牌配件，設(shè)備整體質(zhì)量得到保證。
采用國際最新制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機冷功率，無須采用加熱平衡溫控，實現(xiàn)低能耗運行。
大面積電熱覆膜防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明，提供良好的觀察。
環(huán)保型制冷劑。
可根據(jù)用戶要求定制尺寸或使用性能指標。
  設(shè)備滿足以下標準
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cab：恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db：交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N：溫度變化試驗方法
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定辦法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備試驗室環(huán)境試驗方法（高溫試驗）
GJB 150.4A-2009 軍用裝備試驗室環(huán)境試驗方法（低溫試驗）
GJB 150.9A-2009 軍用裝備試驗室環(huán)境試驗方法（濕熱試驗）