目前，很多半導體器件必須長時間工作在高低溫等各種惡劣環境下，高低溫失效問題變得越來越嚴重。要針對分立元器件的高低溫失效問題，研究低溫環境下器件的電特性規律和各種參數隨溫度變化規律。 因此，高低溫環境的設定和保持對半導體器件來說十分重要，直接影響著它正常運行的可行性和數據的準確性。捷龍本身作為一種快速、控溫精確的高低溫沖擊系統，相比于傳統的溫控測試箱，可對半導體器件溫度循環測試或者高低溫沖擊，升降溫速率非常迅速，如-55℃至+125℃只需7s即可實現，可對待測試樣的局部區域進行溫度沖擊測試而不影響其他區域，并且可對測試機平臺load board上的IC進行溫度實驗。因此，通過使用捷龍高低溫沖擊系統，能完美的對半導體分立器件進行溫控測試，考察其承受極限高低溫的能力，以及在極端高溫與極端低溫交替變化對器件的影響。