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技術(shù)文章

通訊用發(fā)光二極體可靠度試驗


通訊用發(fā)光二極體失效判定:
提供固定電流比較光輸出功率,偌大于10%的誤差則判定失效

機(jī)械穩(wěn)定性試驗:

沖擊試驗:5tims/axis、1500G、0.5ms

振動試驗:20G、20~2000Hz、4min/cycle、4cycle/axis

液體熱沖擊試驗:100℃(15sec)←→0℃(5sec)/5cycle

銲錫耐熱性:260℃/10秒/1次

銲錫附著性:250℃/5秒

耐久性試驗:

加速老化試驗:85℃/通電(最大額定功率)/5000小時、10000小時
高溫保存:最大額定保存溫度/2000小時
低溫保存試驗:最大額定保存溫度/2000小時
溫度循環(huán)試驗-40℃(30min)←85℃(30min)、RAMP:10/min、500cycle
耐濕性試驗:40℃/95%/56天、85℃/85%/2000小時、封膠時

通訊二極體元件篩選試驗:

溫度篩選試驗:85℃/通電(最大額定功率)/96小時 篩選失效判定:固定電流比較光輸出功率,偌大于10%的誤差則判定失敗

通訊二極體模組篩選試驗:

步驟一:溫度循環(huán)篩選:-40℃(30min)←→85℃(30min)、RAMP:10/min、20cycle、不送電
步驟二:溫度篩選試驗:85℃/通電(最大額定功率)/96小時