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可靠性-環(huán)境

可靠性-環(huán)境

可靠性分析是以量化數(shù)據(jù)為產(chǎn)品品質(zhì)之依據(jù),藉由實(shí)驗(yàn)?zāi)M,產(chǎn)品于既定時(shí)間內(nèi)、特定使用環(huán)境條件,執(zhí)行特定規(guī)格功能,成功完成工作目標(biāo)的機(jī)率,以量化數(shù)據(jù)作為產(chǎn)品品質(zhì)保證的依據(jù)。其中,環(huán)境測(cè)試是可靠性分析中的一項(xiàng)常見(jiàn)分析項(xiàng)目。

環(huán)境可靠性測(cè)試是為了保證產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間,在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或貯存的所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)。具體測(cè)試方法就是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用,以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和貯存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。

勝科納米可靠性分析實(shí)驗(yàn)室主要通過(guò)增加溫度、濕度、偏壓、模擬IO等條件,根據(jù)IC設(shè)計(jì)需求,選擇條件加速老化,從而評(píng)估IC可靠性。主要測(cè)試方法如下:

TC溫度循環(huán)測(cè)試

實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):JESD22-A104

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模杭铀贉囟茸兓瘜?duì)樣品的影響

測(cè)試過(guò)程:樣品放入測(cè)試chamber,chamber內(nèi)部在指定溫度之間循環(huán),并在每個(gè)溫度下保持至少十分鐘。溫度極端值取決于測(cè)試方法中選擇的條件??倯?yīng)力對(duì)應(yīng)于在指定溫度下完成的循環(huán)次數(shù)。
       
設(shè)備能力:

溫度范圍  -70℃—+180℃
溫度轉(zhuǎn)換 15℃/min線性
內(nèi)容積   160L
內(nèi)尺寸  W800*H500 * D400mm
外尺寸 W1000 * H1808 * D1915mm
樣品數(shù)量   25 / 3lot
時(shí)間/通過(guò)   700cycles / 0 Fail
2300cycles / 0 Fail

 

BLT高溫偏壓實(shí)驗(yàn)

實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):JESD22-A108

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模焊邷仄珘簩?duì)樣品的影響

測(cè)試過(guò)程:樣品放入實(shí)驗(yàn)chamber,power supply設(shè)置指定電壓及限流值,常溫try run,觀察電源是否有限流出現(xiàn),量測(cè)進(jìn)芯片端電壓是否達(dá)到預(yù)期,記錄常溫電流值,chamber設(shè)置指定溫度,當(dāng)溫度穩(wěn)定于設(shè)定值后,高溫上電并記錄高溫電流值

設(shè)備能力:

溫度范圍 +20℃—+300℃
內(nèi)容積   448L
內(nèi)尺寸 W800*H800 * D700mm
外尺寸 W1450 * H1215 * D980mm
樣品數(shù)量   25 / 3lot
時(shí)間/通過(guò)   殼溫125℃ ,1000hrs/ 0 Fail

 

HAST高度加速應(yīng)力測(cè)試

實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):JESD22-A110/A118 (EHS-431ML , EHS-222MD)

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模篐AST提供了恒定的多重應(yīng)力條件,包括溫度、濕度、壓力和偏壓。為了評(píng)估潮濕環(huán)境中工作的非封閉封裝設(shè)備的可靠性而進(jìn)行。多重應(yīng)力條件會(huì)加速濕氣通過(guò)封裝模具化合物或沿著外部保護(hù)材料和通過(guò)封裝的金屬導(dǎo)體之間的界面滲透。當(dāng)水分到達(dá)裸片表面時(shí),施加的電位會(huì)建立一個(gè)電解條件,腐蝕鋁導(dǎo)體,影響器件的直流參數(shù)。芯片表面存在的污染物,如氯,會(huì)大大加速腐蝕過(guò)程。此外,鈍化層中過(guò)多的磷也會(huì)在這些條件下發(fā)生反應(yīng)。
       
設(shè)備一 設(shè)備二
設(shè)備能力:

樣品數(shù)量  25 / 3lot
時(shí)間/通過(guò)   130℃,85%RH ,96hrs/ 0 Fail
  110℃,85%RH ,264hrs/ 0 Fail


設(shè)備一

 

溫度范圍   -105℃—+142.9℃
濕度范圍   75%RH—100%RH
壓力范圍   0.02—0.196MPa
內(nèi)容積 51L
內(nèi)尺寸   W355*H355 * D426mm
外尺寸 W860 * H1796 * D1000mm


設(shè)備二

 

溫度范圍   -105℃—+142.9℃
濕度范圍 75%RH—100%RH
壓力范圍   0.02—0.392MPa
內(nèi)容積   180L
內(nèi)尺寸  W569*H560 * D760mm
外尺寸     W800 * H1575 * D1460mm

 

THB溫濕度循環(huán)測(cè)試

實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):JESD22-A101

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模簻貪穸茸兓瘜?duì)樣品的影響

實(shí)驗(yàn)過(guò)程:樣品放入實(shí)驗(yàn)chamber,power supply設(shè)置指定電壓及限流值,常溫try run,觀察電源是否有限流出現(xiàn),量測(cè)進(jìn)芯片端電壓是否達(dá)到預(yù)期,記錄常溫電流值,chamber設(shè)置指定溫度,當(dāng)溫度穩(wěn)定于設(shè)定值后,高溫上電并記錄高溫電流值

設(shè)備能力:

溫度范圍  -40℃—+180℃
濕度范圍  10%RH—98%RH
溫度轉(zhuǎn)換率  3℃/min
內(nèi)容積   784L
內(nèi)尺寸 W1000*H980 * D800mm
外尺寸 W1200 * H1840 * D1625mm
樣品數(shù)量   25 / 3lot
時(shí)間/通過(guò)  85℃,85%RH ,1000hrs/ 0 Fail
  程序溫濕度循環(huán),溫度超過(guò)100℃將無(wú)濕度

 

TSA&TSB溫度沖擊試驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):JESD22-A106
實(shí)驗(yàn)?zāi)康模杭铀贉囟茸兓瘜?duì)樣品的影響
測(cè)試過(guò)程:樣品放入測(cè)試chamber,chamber內(nèi)部設(shè)定指定溫度,升溫前卻確認(rèn)樣品已被固定在模具上,已防止實(shí)驗(yàn)期間因樣品掉入chamber內(nèi)而損壞。

設(shè)備能力:

  TSA  TSB
溫度范圍  -70℃—+200℃  -65℃—+200℃
轉(zhuǎn)換時(shí)間   5min以?xún)?nèi)   <20S
內(nèi)容積 70L  4.5L   
內(nèi)尺寸      W410*H460 * D3700mm   W150*H150 * D200mm
外尺寸 W1310 * H1900 * D1770mm  W1200 * H1785 * D1320mm