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半導體芯片溫度測試案例: 某半導體廠商選用 inTEST-Temptronic thermostream ATS-710-M 高速溫度測試機, 提供循環(huán)測試溫度：-80°C 至 +225°C，每秒可快速升溫/降溫 18 °C，成功完成芯片的高低溫循環(huán)測試, 疲勞失效測試.




inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode，溫度顯示精度：±1°C (通過美國國家標準與技術研究院 NIST 校準) ，不需要液態(tài)氮氣 (N2) 或液態(tài)二氧化碳 (CO2)冷卻。