TS系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber
*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門(mén)的高密封性；
多種可選功能（測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等）保證了用戶多種功能和測(cè)試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；
*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯；
每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流（過(guò)熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)
主要技術(shù)指標(biāo):
|
型號(hào)
|
單位
|
TS-60
|
TS-120
|
TS-120P
|
TS-300
|
TS-300P
|
|
測(cè)試空間容積
|
L
|
60
|
120
|
120
|
300
|
300
|
|
移動(dòng)提籃最大負(fù)載
|
Kg
|
20
|
50
|
50
|
100
|
100
|
|
實(shí)驗(yàn)空間尺寸，高（H）×寬（W）×深（D）
|
mm
|
370x380x430
|
410x470x650
|
410x470x650
|
610x770x650
|
610x770x650
|
|
熱箱溫度范圍
|
℃
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
|
冷箱溫度范圍
|
℃
|
-80至 +70
|
-80至 +70
|
-80至 +70
|
-80至 +70
|
-80至 +70
|
|
熱箱升溫速率
|
K/min
|
17
|
14
|
18
|
11
|
23
|
|
冷箱降溫速率1
|
K/min
|
3.7
|
6.3
|
7.5
|
5.0
|
12.0
|
|
冷箱升溫速率，單箱操作1
|
K/min
|
3.7
|
2.0
|
2.0
|
1.5
|
1.5
|
|
溫度波動(dòng)度2
|
K
|
±0.3 至±1.0
|
±0.3 至±1.0
|
±0.3 至±1.0
|
±0.3 至±1.0
|
±0.3 至±1.0
|
|
溫度均勻性3
|
K
|
±0.5 至±2.0
|
±0.5 至±2.0
|
±1.0至±2.0
|
±0.5 至±2.0
|
±1.0至±2.0
|
|
熱/冷箱轉(zhuǎn)換時(shí)間
|
sec
|
＜10
|
＜10
|
＜10
|
＜10
|
＜10
|
|
恢復(fù)時(shí)間-溫度變化測(cè)試
|
min
|
＜154
|
＜155
|
＜126
|
＜157
|
＜158
|
|
熱箱校準(zhǔn)值9
|
℃
|
+125
|
+125
|
+125
|
+125
|
+125
|
|
冷箱校準(zhǔn)值9
|
℃
|
-40
|
-40
|
-40
|
-40
|
-40
|
1根據(jù)IEC 60068-3-5.通過(guò)選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來(lái)提高溫度變化速率.
2有效測(cè)試空間中心點(diǎn)。
3基于設(shè)置點(diǎn):溫度范圍-65℃ to +200℃
4MIL-STD-883E，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) D，4.5 kglCs 分布于2個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量.
5MIL-STD-883J，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) D，12 kglCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量.
6MIL-STD-883F，方法1010.9，強(qiáng)度級(jí) D，20 kgCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量.
7MIL-STD-883J，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) F，25 kg lCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量.
8MIL-STD-883
F，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) F，50 kglCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量.
9出廠計(jì)量.
冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber
---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能
|
試驗(yàn)規(guī)范
|
駐留溫度(℃)
(exposure temp.)
|
駐留溫度時(shí)間(Min)
(exposure time)
|
覆歸時(shí)間
(recovery time)
|
周期
或次數(shù)
|
試驗(yàn)起
始點(diǎn)
|
備注
|
適用機(jī)臺(tái)型號(hào)
TS-(80/150/225/408)
|
|
高溫
|
室溫
|
低溫
|
高溫/低溫
|
室溫
|
S
|
U
|
L
|
|
MIL-STD-883E
(Method No.1010.7)
|
+85
|
+10
|
----
|
-55
|
0
|
≧10min
≦15min
|
----
|
含駐留時(shí)間&
轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min
|
*少
10次
|
低溫或
高溫
|
Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)
實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷
超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做
|
◎
|
◎
|
----
|
|
0
|
|
+125
|
+15
|
◎
|
◎
|
----
|
|
0
|
-10
|
|
+150
|
+15
|
◎
|
◎
|
----
|
|
0
|
|
+150
|
+15
|
-65
|
0
|
◎
|
.
|
----
|
|
0
|
-10
|
|
MIL-STD-202F
(Method No.107G)
|
+83
|
+3
|
-25
|
+10
|
-55
|
0
|
28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min
|
Max.
5 Min
|
5 Min 以內(nèi)
|
5 cycle
25
50
100
|
低溫
|
Transfer time
不超過(guò)5 min
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
0
|
-3
|
|
+125
|
+3
|
-65
|
0
|
◎
|
◎
|
----
|
|
0
|
-5
|
-5
|
|
+125
|
+3
|
-65
|
0
|
◎
|
◎
|
----
|
|
0
|
-5
|
|
JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22
|
+70
+85
+100
+125
|
±2
±2
±2
±2
|
室溫
|
-5
-10
-25
-40
-55
-65
|
±3
±3
±3
±3
±3
±3
|
3hr
2hr
1hr
30min
或無(wú)定義則
以3hr定義
|
手動(dòng)轉(zhuǎn)
移時(shí)間
2～3Min
|
為駐留時(shí)間
之1/10
|
5 cycle
除非有
其它規(guī)格
|
低溫
|
Auto
Transfer time
不超過(guò)30 sec
小試件
Transfer time
不超過(guò)10 sec
|
★
|
★
|
★
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
|
|
◎
|
◎
|
----
|
|
IPC 2.6.7
|
+70
|
±2
|
----
|
0
|
+0
|
15 Min
|
----
|
2 Min 以內(nèi)
|
100 cycle
|
高溫
(試驗(yàn)結(jié)束
點(diǎn)在高溫)
|
Transfer time
不超過(guò)2 min
|
★
|
★
|
★
|
|
-0
|
-5
|
|
+85
|
+5
|
-40
|
+0
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
-0
|
-5
|
|
+105
|
+5
|
-55
|
+0
|
◎
|
◎
|
．
|
|
-0
|
-5
|
|
+105
|
+5
|
-65
|
+0
|
．
|
．
|
----
|
|
-0
|
-5
|
|
+105
|
+5
|
|
|
．
|
．
|
----
|
|
-0
|
|
IPC 2.6.6
|
+85
|
+3
|
-25
|
+10
|
-55
|
+0
|
30 Min
|
10-15
Min
|
|
5 cycle
|
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
-0
|
-5
|
|
+125
|
+3
|
-5
|
-65
|
+0
|
◎
|
◎
|
----
|
|
-0
|
-5
|
|
Bellcore
GR-1221-CORE
|
+70
|
±2
|
----
|
|
≧10min
≦15min
|
----
|
含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min
|
500 cycle
OR
1000cycle
|
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
|
|
+80
|
±2
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
|
|
JESD22
A104-A
|
+125
|
+10
|
|
-40
|
+0
|
≦15min
|
|
含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min
|
抽10次
可接受;
1000次
合格
|
|
Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)
實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷
超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
-0
|
-10
|
|
+85
|
+10
|
-55
|
+0
|
◎
|
◎
|
．
|
|
-0
|
|
+125
|
+10
|
|
-0
|
-10
|
|
+150
|
+10
|
|
-0
|
|
+150
|
+10
|
-65
|
+0
|
◎
|
．
|
----
|